一、高低溫低氣壓試驗箱產(chǎn)品應用： 
本產(chǎn)品是根據(jù)用戶要求，參照GB10590低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件、GB 10589低溫試驗箱相應技術(shù)條件、GB 11158高溫試驗箱相應技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等；用于各種連接器、電纜、微特電機等高溫試驗、低溫試驗，溫度-低氣壓試驗功能。
二、產(chǎn)品特點 
1.試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設計良好合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方。
2.該試驗箱主要功能元器件均采用配置（含金量高）、技術(shù)原理良好可靠、噪音與節(jié)能得到*控制——其性能可與國外同類產(chǎn)品蓖美。
3.零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有xianjin水平的*件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
4.設備具有良好的操作性、維護性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、*及危害人身健康
三、滿足標準 
1.GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法
2.GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法
3.GB/T2423.3—2008 恒定濕熱試驗
4.GB/T2423.4—2008交變濕熱試驗
5.GB/T2423.21-2008  低氣壓試驗方法
6.GB/T2423.22—2008試驗Nb溫度變化試驗
7.GB/T2423.25-2008 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗；
8.GB/T2423.26-2008 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗；
9.GJB 150.2A-2009低氣壓(高度)試驗
10.GJB150.3A—2009 高溫試驗
11.GJB150.4A—2009 低溫試驗
12.GJB150.6A—2009 低溫試驗軍用設備環(huán)境試驗方法-溫度-高度試驗
13.GJB150.9A-2009濕熱試驗
14.GJB150.24A-2009溫度濕度振動高度試驗（不包括振動試驗）
四、高低溫低氣壓試驗箱主要技術(shù)參數(shù)：
1.工作室尺寸：500×500×600 mm (深×寬×高)
2.外形尺寸（約）：1020×1040×1780 mm  (深×寬×高)
3.溫度范圍：-70℃～+150℃
4.溫度波動度：≤±0.5℃（常壓、空載時，恒定狀態(tài)）
5.溫度均勻度：≤2℃（常壓、空載時，恒定狀態(tài)）
6.溫度偏差：≤±2℃（常壓、空載時，恒定狀態(tài)）
7.升降溫速率：空氣溫度：-70℃→+150℃，全程平均≥1℃/min，常壓,帶載10kg鋁錠；
8.空氣溫度：+150℃→-70℃，全程平均≥1℃/min，常壓,帶載10kg鋁錠
9.壓力范圍：常壓～0.5KPa   1kpa
10.降壓速率：常壓～1.0kPa降壓時間≤30min   （45min）
11.壓力恢復速率：≤10.0kPa/min
12.快速減壓：75.2kPa→18.8 kPa ≤15s
13.壓力偏差：壓力≥40KPa時：≤±2KPa     壓力4KPa～40KPa時：≤±5%     壓力≤4KPa時：≤±0.1KPa
14.氣壓變化速率：≤15kPa/min(可調(diào))
15.滿足標準：GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M 低氣壓試驗方法
16.驗收標準：GB/T5170 污染、電磁輻射 符合相關標準要求
17.噪音：≤80dB
18.總功率：約 20 KW
19.電    壓：380V±10%； 50 Hz；三相四線+接地線
以上產(chǎn)品運行技術(shù)數(shù)據(jù)除溫度恢復時間外均在室溫20℃，相對濕度≤85%R.H，(冷卻水溫5～28℃，供水壓力在0.1Mpa～0.3Mpa時)，試驗箱空載，溫度/氣壓恒定兩小時后條件下測得。